Sistema di prova LIBS a risoluzione spaziale su scala micrometrica - MEEPLIBS
MEEPLIBS può eseguire analisi degli elementi con risoluzione spaziale su scala micrometrica, in combinazione con la realizzazione di un microscopio tradizionale, con dimensioni di calibro standard di analisi di 15 micron e 18 micron (zui piccolo può raggiungere 4 micron), può essere testato in ambienti atmosferici a temperatura ambiente o in ambienti specifici.
Ampiamente utilizzato per l'analisi degli elementi in tempo reale di risoluzione spaziale su scala micrometrica dei materiali semiconduttori e dei materiali di pannello.
Caratteristiche del sistema:
Fonte di luce: 266nm laser UV
Formazione del fascio laser con attenuatore, software di potenza laser regolabile
Controllo automatico della temperatura del sistema di rilevamento
Configurazione della telecamera nel sistema per l'osservazione in tempo reale dell'area del campione in prova
Configurazione di un regolatore tridimensionale elettrico per calibrare la posizione di messa a fuoco del laser, migliorare la precisione della ripetibilità degli esperimenti e effettuare misurazioni sequenziali dei campioni
Possibilità di analizzare tutti gli elementi di misurazione, inclusa la massa zui leggera
Nessun prelevamento del campione, rilevamento rapido